X射線與自然光并沒有本質的區(qū)別，都是電磁波，只是X射線的光量子的能量遠大于可見光。它能夠穿透可見光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時將和物質發(fā)生復雜的物理和化學作用，可以使原子發(fā)生電離，使某些物質發(fā)出熒光，還可以使某些物質產(chǎn)生光化學反應。如果工件局部區(qū)域存在缺陷，它將改變物體對射線的衰減，引起透射射線強度的變化，這樣，采用一定的檢測方法，比如利用膠片感光，來檢測透射線強度，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小。
　　
　　X射線檢測是利用X射線的穿透能力，在工業(yè)上一般用于檢測一些人眼所看不到的物品內(nèi)部傷斷缺陷或電路的短路故障等。例如，檢測多層基板內(nèi)部電路有無短路，X射線可穿透基板的表面到達基板的內(nèi)部電路，在X射線檢測對面有個數(shù)據(jù)接收器，自動將接收到的輻射轉換成電信號并傳到擴張板中，通過的軟件將圖像在顯示器中顯示出來，這樣操作人員就可以觀測到基板的內(nèi)部結構。
　　
　　在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當安全快門打開時，X射線將從X射線源和探頭之間的被測材料中通過，被測材料將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測材料的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測信號也隨之發(fā)生相應的變化。
　　
　　簡而言之，射線在穿透一定的物質時，其強度呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為
　　
　　I=TrxEXP(-U，X)
　　
　　式中Tr一初始射線強度；
　　
　　I一穿過物體后的射線強度；
　　
　　U一衰減系數(shù)；
　　
　　X-射線穿過的厚度。
　　
　　對于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射線測量厚度時必須知道被測材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是大的，對射線的阻擋能力強，因此在核技術實驗中用做防護材料。